功率器件芯片采用背面作为电极,为了提升器件性能,需要采用背面减薄方式来缩小芯片的厚度,从而减小正面与背面的导通电阻,减少能量损耗。由于芯片的正面加工工艺复杂、工序繁多,如果采用薄片流通容易碎片,导致良品率急剧下降,因此,技术上均采用先正面工艺完成后再进行背面工艺加工。
技术发展的过程中,部分器件(如MOSFET)在背面减薄完成后,还可以进行背面离子注入以降低体硅的电阻率,进一步降低电阻率来减少能量损耗;而对于IGBT芯片,是在正面MOSFET结构形成后,通过背面减薄后再制作PN结构双极器件,二者结合形成IGBT的器件结构。
对于功率器件芯片而言,不断追求薄片/超薄片是必然的趋势,从而不断改善器件结构、提升器件性能、减小能量损耗。
特色工艺半导体(含功率半导体)产业链的上下游包含“硅片—晶圆代工—设计公司”,其中晶圆代工根据其生产环节的不同又包含正面工艺和背道工艺,背道工艺的主要工序包括:背面减薄、硅腐蚀去应力、背面金属化、背面注入、背面器件结构制作、薄片/超薄片CP测试等方面。
近年来,随着器件性能要求的不断攀升,新型结构的薄片/超薄片技术,在国外一些领先的IDM公司发展迅速,如Infineon、Toshiba、Mitsubishi、ROHM、AOS等,国内设计公司正在进行跟进和对标设计,相应的工艺加工能力配套已经非常急迫和必要。